Clemex CIR

La solution fiable pour analyser la teneur en inclusions

Mappage multichamps de l’entièreté de l’échantillon

Clemex CIR localise et mappe les inclusions occupant plus d’un champ. Les champs les plus sales (ASTM, ISO ou DIN) peuvent être identifiés facilement et rapidement, et les artéfacts peuvent être éliminés. Les opérateurs peuvent passer d’un échantillon à l’autre avec aisance.

Détection automatisée des rebords des échantillons

Clemex CIR trouve le bord physique de chaque échantillon automatiquement ce qui lui permet de créer des quadrillages qui couvrent toute la surface.

Exportez des données brutes

Les données accumulées durant l’analyse d’images peuvent être exportées en format tableau TXT ou en fichiers Microsoft Excel.

Mappage multichamps


Caractéristiques principales

Qualité supérieure de la saisie d'images

Mise au foyer automatisée

Pour obtenir des résultats de qualité il vous faut une image claire. La mise au foyer automatisée offre précision et vitesse. Avec sa mise au foyer automatisée, vous pourrez toujours vous appuyer sur une image parfaitement détaillée.

Exposition automatique

Pas besoin de régler la vitesse d'obturation manuellement grâce à notre fonction d'exposition automatique. L’exposition est ajustée automatiquement avant chaque analyse, éliminant ainsi la subjectivité.

Correcteur d'ombrages automatisé

La fonction de correction automatisée d’ombrages, exclusive aux logiciels de Clemex, assure un éclairage uniforme pour les images captées en utilisant la caméra du système. L’image de gauche a été prise sans correcteur d’ombrage. Un tableau de correspondances pour pseudo-couleur (LUT) a été utilisé pour mettre en valeur les différents niveaux de gris.

Caméra USB II

Les caméras ont un taux de rafraîchissement élevé et une excellente résolution. Ces caméras n'ont besoin que d'un seul câble et sont faciles à installer.

Détection précise des objets

Détectez et classifiez

La clé pour réussir à détecter les oxides et les sulfures facilement est un seuillage précis. Clemex CIR vous permet de régler le seuillage de l'image afin d'éliminer les artéfacts fins et les éraflures.

Mappage intelligent de l’échantillon

La fonction de mappage stocke les coordonnées de chaque objet analysé dans un environnement multichamps. Les utilisateurs peuvent naviguer entre les différents échantillons et valider les inclusions, qu'il y en ait peu ou des centaines.

Analyse de coulées différentes

Les échantillons peuvent être traitées un à la fois ou regroupés par coulées/échantillons, jusqu’à 6 coulées de 6 échantillons par analyse.

Échantillons à plaques multiples

Dans le cas des échantillons à plaques multiples, les zones foncées entre les plaques, sont automatiquement exclues de l’analyse.

Inclusions facilement traçables

Une fois l'analyse terminée, les positions de toutes les inclusions sont mémorisées par le logiciel. D'un simple clique sur la mappe multichamps Clemex CIR déplace la platine et le porte-échantillons au champ sélectionné et affiche toutes les inclusions qui s'y trouvent.

Évaluation des pires champs

Les pires champs sous les normes ASTM, ISO ou DIN sont identifiés automatiquement: autant les grosses inclusions (lignes pleines) que les inclusions minces (lignes pointillées). Les pires champs sont affichés en utilisant des couleurs spécifiques aux types d’inclusions.

Automatisation

Enregistrez les images

Lors d'une analyse, l'utilisateur a la possibilité d'enregistrer toutes les images pour l’archivage ou pour une utilisation ultérieure sur le même instrument ou un ordinateur distant.

Inclusions traversant des champs

Toutes les inclusions traversant plus d'un champ sont prises en considération lors de l'analyse, peu importe leur taille ou leur position par rapport aux bords des champs de vision du microscope.

Différents types d’inclusions

Les évaluations sont basées sur les normes internationales. Classez différents types d’inclusions: Sulfures (A), Alumines (B), Silicates (C), Globulaires (D), Globulaires simples (DS), Borures, Carbures, Nitrures
(XxCN).

Des rapports professionnels

Les rapports sont générés automatiquement selon les normes définies. Les données accumulées durant l’analyse peuvent être exportées en format tableau TXT ou en fichiers Microsoft Excel.

Création des quadrillages

Clemex CIR trouve le bords des échantillons et créé automatiquement un quadrillage d'analyse pour couvrir une surface soit de 160 mm carrés, de 200 mm carrés, ou de la grandeur totale de votre échantillon.

Environnement de l'usager

Quadrillages définis par l'utilisateur

Avec son interface conviviale, Clemex CIR vous permet de créer des quadrillages d'analyse en quelques secondes.

Enregistrez et ouvrez les quadrillages d'analyse

Lors du démarrage, chargement automatique du dernier quadrillage à être employé. Cette fonction est extrêmement utile pour les utilisateurs qui analysent le même genre de zone à plusieurs reprises. Si un quadrillage spécial est défini pour une zone particulière, il peut être enregistré et chargé ultérieurement.

Microscopes

Clemex CIR est compatible avec la majorité des microscopes sur le marché. Votre propre microscope peut être converti en y ajoutant le contrôleur de platine de Clemex. Contactez-nous pour mettre à jour votre système.

Échantillons montés et non montés

Les laboratoires à haut débit, tels que dans les aciéries, préfèrent analyser les échantillons non montés afin de sauver du temps de préparation. Clemex CIR analyse les échantillons montés ou non.