Beschichtungscharakterisierung von Siliciumcarbiden
Eingeschickt wurde eine Probe mit Siliciumcarbidbeschichtung. Zur Ermittlung der Schichten und der Beschichtungsdicke wurde Clemex Vision PE eingesetzt.
Abbildung 1. Die Mikrostruktur der Siliciumcarbidbeschichtung wird mit 500-facher Vergößerung angezeigt. Die Hälfte wird zu Demonstrationszwecken von der Binarisierungsschicht überdeckt.
Abbildung 2. Das Originalbild nach mehreren Grauwertdurchläufen
Abbildung 3. Abschließende Bestimmung der 3 Beschichtungen im Vergleich zum Originalbild
Abbildung 4. Vergrößertes Bild der mittleren Beschichtungsbestimmung. Jede Linie wird vermessen, um eine Verteilung der Beschichtungsdicke zu ermitteln.
ZWECK
Zeigt die Fähigkeit des Clemex Vision Bildanalysesystems, eine Beschichtungsanalyse an Proben mit drei Beschichtungen durchzuführen. Die verwendeten Methoden und Prozesse werden in dem unten verlinkten Bericht beschrieben. Klicken Sie einfach auf "PDF herunterladen".
ERGEBNISSE
Anhand von Messlinien werden Messungen durchgeführt, um die Verteilung der Beschichtungsdicke zu ermitteln. Die abschließenden Ergebnisse können direkt über Clemex Vision ausgedruckt werden. Rohdaten werden zur Auswertung mit den entsprechenden Objekten verknüpft. Die Rohdaten können auch in eine Excel-Datei exportiert werden.
