Évaluation ultrarapide des inclusions
Clemex CIR aide les laboratoires de contrôle qualité à améliorer considérablement leur productivité en analysant les inclusions dans l’acier avec une vitesse, une précision et une répétabilité remarquables.
Très simple à utiliser, le logiciel d’évaluation des inclusions vous permettra de réduire le temps d’analyse à moins de 3 minutes pour une surface de 160 mm², avec une intervention minimale de l’utilisateur.
Fonctionnalités améliorées
Améliorez votre processus de prise de décision en tirant parti de vos données. Grâce à la dernière version de Clemex CIR, vous pouvez trier, filtrer et exporter les mesures de chaque inclusion, obtenant ainsi des informations pertinentes sur vos échantillons.
Types d’analyses
Notre système d’analyse d’images automatisée est conçu pour détecter les inclusions suivantes et les classifier selon les normes les plus reconnues : sulfures, aluminates, silicates, oxydes globulaires, globulaires isolés, borures, carbures, nitrures et carbonitrures.
Fonctionnalités clés
Logiciel d’évaluation des inclusions Clemex CIR
Tri des données simplifié
Profitez du navigateur de données le plus performant du marché. Toutes les inclusions détectées peuvent être triées, filtrées et validées en quelques secondes, vous permettant de vous concentrer sur les données critiques.
Carte de l’ensemble de l’échantillon
Localise et cartographie les inclusions sur l’ensemble de la zone d’échantillonnage, selon un alignement vertical ou horizontal. Les champs les plus critiques sont identifiés rapidement et les artefacts peuvent être supprimés. Les opérateurs peuvent naviguer facilement d’un échantillon à l’autre.
Objets traçables
Sélectionnez les inclusions et les artefacts sur une carte de l’ensemble de l’échantillon. Basculez entre cette vue cartographique et les objets sélectionnés afin de les accepter, les reclasser ou les rejeter.
Classification des oxydes et des sulfures
Ajustez le seuillage afin de détecter les oxydes et les sulfures avec précision. Éliminez les artefacts fins et les rayures.
Champs critiques flottants
Les champs les plus critiques selon les normes ASTM, ISO ou DIN sont identifiés automatiquement. Ils sont affichés sur la carte de l’échantillon à l’aide de couleurs correspondant aux types d’inclusions.
Enregistre les images du champ le plus critique
Export automatique des images .tiff des champs les plus critiques avec détection visible. Cela permet de gagner un temps considérable lors de la génération de rapports conformes à la norme ASTM E45 Méthode A.
DIFFÉRENTS LOTS (HEATS)
Analyse jusqu’à 6 lots, avec 6 échantillons chacun, au cours d’une même acquisition.
ESTIMATION DE VALEURS EXTRÊMES
Caractérisation statistique de la distribution des plus grosses inclusions à partir des résultats de jusqu’à 4 essais, conformément à ASTM E2283.
OPTIMISATION D’IMAGE
Mise au point automatique, exposition automatique et correction automatisée de l’illumination.
INCLUSIONS DE GRANDE TAILLE
Les inclusions longues s’étendant sur plusieurs champs sont détectées et mesurées comme une seule inclusion.
ÉCHANTILLONS MULTI-PLAQUES
Les interfaces entre échantillons empilés sont ignorées.
RECHARGEMENT DE MOTIFS
Gain de temps grâce à l’utilisation d’une platine magnétique et à la réutilisation de motifs de positionnement enregistrés.
GÉNÉRATION DE RAPPORTS
Export des résultats dans plusieurs formats, dont XLS, TXT, CSV et ASCII pour post-traitement.
SAUVEGARDE D’IMAGES
Les images acquises lors de l’analyse peuvent être sauvegardées pour utilisation ultérieure.
Détails du produit
Typiquement, un microscope inversé Nikon, une platine motorisée Märzhäuser et une caméra haute résolution sont sélectionnés afin de répondre précisément à vos besoins en évaluation des inclusions. Nous assurons une intégration complète et harmonieuse de l’ensemble des composants.
- Analyse de vos besoins par un représentant technique
- Configuration, ajustement et étalonnage
- Installation sur site et formation de votre équipe
Augmentez la productivité en laboratoire à haut débit grâce à un flux de travail simple. L’opérateur suit une procédure en 3 étapes pour obtenir des résultats reproductibles :
- Positionner l’échantillon sur la platine
- Lancer l’analyse de l’échantillon
- Consulter les données et exporter les résultats
Matériel et accessoires
Accessoires de platines et porte-échantillons
Clemex conçoit et fabrique des porte-échantillons et adaptateurs de platine sur mesure pour répondre aux besoins clients en analyse d’image.
Microscopes
Clemex distribue des microscopes Nikon et Leica en Amérique et Europe, via ses solutions clés en main, pour une analyse microscopique précise et reproductible.