Module d'analyse de
l'épaisseur des revêtements
L'épaisseur des revêtements est un indicateur de qualité critique dans l'aérospatiale, l'automobile, le biomédical et la fabrication industrielle. Qu'il s'agisse d'évaluer des projections thermiques monocouches, des systèmes céramiques multicouches ou des sous-couches d'accrochage poreuses, la mesure manuelle traditionnelle sur coupe transversale introduit une variabilité entre opérateurs, limite la cadence et ne parvient pas à saisir la distribution complète des épaisseurs. Le module d'analyse de l'épaisseur des revêtements de Clemex automatise la détection, la segmentation et la mesure sur des systèmes de revêtement simples et multicouches, en fournissant des résultats statistiquement robustes accompagnés d'un rapport complet de porosité et de dureté, le tout dans un seul flux de travail.
Du revêtement simple aux systèmes multicouches complexes. Clemex mesure automatiquement chaque couche, avec des statistiques de distribution complètes.
Types de structures de revêtement
Architectures de revêtement prises en charge
Le module d'épaisseur des revêtements de Clemex est validé sur tout l'éventail des configurations de revêtement industrielles, des dépôts monocouches denses aux systèmes multicouches complexes.
Une couche de revêtement régulier
Un revêtement dense unique, à interface bien définie et à porosité minimale. Typique des dépôts PVD, CVD ou électrolytiques. Clemex détecte la limite par seuillage et génère des lignes de mesure perpendiculaires pour obtenir une distribution complète de l'épaisseur.
Une couche de revêtement poreux
Un revêtement unique présentant une porosité interne importante, courant dans les applications de projection thermique et biomédicales. Clemex isole le corps du revêtement, élimine les artéfacts et rapporte l'épaisseur et la porosité de façon indépendante.
Couches multiples
Empilements complexes combinant sous-couches d'accrochage métalliques, revêtements céramiques supérieurs et couches de finition. Les opérations Multi Layer Grab et Top Hat isolent chaque couche indépendamment, même lorsque des couches adjacentes partagent des niveaux de gris similaires.
Deux couches du même type
Deux couches successives du même matériau séparées par une ligne d'interface. Clemex détecte l'interface et attribue chaque couche à son propre plan de mesure binaire pour un rapport d'épaisseur indépendant.
Deux couches de types différents
Deux couches contrastées (p. ex. une sous-couche d'accrochage dense et un revêtement céramique supérieur fissuré) séparées par un contraste de niveaux de gris. Chaque couche est cartographiée et mesurée indépendamment, avec sa propre valeur d'épaisseur et de porosité.
Applications concrètes
Exemples de rapports d'analyse
Découvrez comment le module d'analyse de l'épaisseur des revêtements de Clemex se comporte sur une gamme d'échantillons de revêtements industriels, de la projection thermique aux systèmes de peinture multicouche.
Revêtement par projection thermique
Détection et mesure de la porosité sur un échantillon enrobé de projection thermique. Clemex isole les pores de la matrice du revêtement à l'aide du seuillage en niveaux de gris et d'opérations binaires, en rapportant la surface et la longueur des pores ainsi que le rapport pores/revêtement.
Revêtement de carbure de silicium
Revêtement de carbure de silicium à trois couches dont les couches interne et médiane partagent la même plage de niveaux de gris. Clemex applique des opérations de filtre sur les niveaux de gris pour distinguer les couches qui ne peuvent être séparées par le seul seuillage, puis mesure chacune indépendamment.
Caractérisation d'un revêtement avec peinture
Une tôle métallique comportant deux revêtements et une couche de peinture. Les opérations Multi Layer Grab et Top Hat séparent les couches partageant des plages de niveaux de gris similaires. Les contours des revêtements et la couche de peinture sont convertis en lignes de mesure pour une distribution complète des épaisseurs.
Caractérisation de revêtements sur Inconel
Six échantillons d'Inconel présentant différents revêtements. Clemex distingue automatiquement le revêtement, les inclusions, la résine d'enrobage et la porosité à l'aide du seuillage et d'opérations binaires, puis convertit le corps du revêtement en lignes de mesure pour un rapport complet de distribution d'épaisseur et de porosité.
Comment ça fonctionne
Flux de travail d'analyse automatisée des revêtements
Un pipeline entièrement automatisé en quatre étapes fait passer votre image de coupe transversale de l'acquisition au rapport statistique final.
Acquisition de l'image
Les images de coupe transversale sont capturées et chargées directement dans le flux de travail. Compatible avec les systèmes optiques, MEB et BSE.
Détection des couches
Les opérations de binarisation et de plans binaires isolent chaque couche de revêtement indépendamment, même lorsque les couches partagent des niveaux de gris similaires.
Analyse du revêtement
Les contours des couches sont convertis en lignes de mesure perpendiculaires. L'épaisseur, la porosité et la distribution sont calculées par couche.
Génération du rapport
Minimum, maximum, moyenne et écart-type par couche, avec sortie d'histogramme complète, automatiquement compilés dans un rapport traçable.
Modes de détection
Clemex applique l'approche de détection adaptée à votre échantillon — du seuillage rapide et déterministe à la segmentation par IA pour les empilements multicouches les plus exigeants.
Mode 01 · Détection automatisée par seuillage
Appliqué lorsque les couches de revêtement présentent un contraste de niveaux de gris distinct par rapport au substrat ou entre elles. Rapide et déterministe, idéal pour les revêtements monocouches denses et les empilements multicouches hétérogènes.
Idéal pour : Couche simple · Bicouche hétérogène · Échantillons à fort contraste
Mode 02 · Détection automatisée par IA
Déployé pour détecter des échantillons multicouches complexes où les couches partagent des niveaux de gris similaires et ne peuvent être séparées par les méthodes traditionnelles. Des opérations pilotées par l'IA génèrent le contraste nécessaire à la segmentation indépendante des couches.
Idéal pour : Couches à même niveau de gris · Empilements multicouches · Architectures complexes
Résultats de mesure · Résultats principaux
Épaisseur et distribution
Chaque analyse de revêtement Clemex fournit un ensemble complet de résultats quantitatifs par couche détectée, de la distribution de l'épaisseur aux données de porosité et de propriétés mécaniques.
Épaisseur moyenne (µm)
Épaisseur perpendiculaire moyenne sur toutes les lignes de mesure, pour chaque couche détectée.
Épaisseur min / max
Plage complète des valeurs mesurées par couche, révélant les zones d'amincissement ou de surépaisseur locales.
Écart-type
Indice d'uniformité de la couche. Un faible écart-type indique un procédé de dépôt uniforme et constant.
Histogramme de distribution de l'épaisseur
Histogramme complet du nombre en fonction de la longueur, sur des intervalles de classes définis par l'utilisateur, par couche.
Résultats secondaires
Porosité et données par couche
Pourcentage de porosité (%)
Fraction surfacique des pores et cavités au sein du corps du revêtement, segmentée indépendamment du matériau de revêtement.
Séparation par couche
Chaque couche d'un empilement multicouche est rapportée indépendamment, avec ses propres données d'épaisseur et de porosité.
Fonctionnalités clés
Tout ce dont vous avez besoin dans un seul module
De l'acquisition de l'image au rapport final, Clemex couvre l'ensemble du flux de travail d'analyse de l'épaisseur des revêtements.
Prise en charge des architectures multicouches
- Gère des empilements de 1 à 3 couches et plus au cours d'une même session d'analyse
- Sépare les couches même lorsque des couches adjacentes partagent des plages de niveaux de gris identiques, grâce aux pipelines de saisie multiple (multi-grab) et de filtres de gris
Quantification intégrée de la porosité
- Segmente indépendamment les pores, les inclusions et les artéfacts d'enrobage du corps du revêtement
- Rapporte la porosité en fraction surfacique par échantillon, sans intervention manuelle
Rapports statistiques et histogrammes complets
- Génère des histogrammes de distribution des longueurs par couche, avec axes de comptage et de pourcentage cumulé
- Fournit minimum, maximum, moyenne et écart-type dans un rapport formaté et traçable
Compatible avec votre configuration d'imagerie
S'intègre à une large gamme de systèmes de microscopie optique et électronique, quelle que soit la marque ou la configuration. Aucun matériel propriétaire requis — si votre système capture des images de coupe transversale, Clemex peut les analyser.
Résultats reproductibles et indépendants de l'opérateur
- Les opérations binaires automatisées et les séquences de filtres de gris éliminent la subjectivité de l'analyste
- La même image produit toujours une segmentation, des mesures et un rapport identiques
Foire aux questions
Quelles industries et quels types de revêtements le module prend-il en charge?
Le module est utilisé dans l'aérospatiale (barrières thermiques, HVOF, projection plasma), l'automobile (revêtements céramiques et métalliques), le biomédical (revêtements poreux d'implants), l'électronique (couches minces PVD/CVD) et le contrôle qualité en fabrication générale. Il gère les systèmes de revêtement métalliques, céramiques, à base de carbures et multicouches mixtes sur tout matériau de substrat visible en coupe transversale, sans reconfigurer le flux de travail entre les types d'échantillons.
Aérospatiale, automobile, biomédical et au-delà
Comment Clemex élimine-t-il la variabilité entre opérateurs dans les mesures de revêtement?
La mesure traditionnelle sur coupe transversale exige que l'analyste trace manuellement les lignes de mesure, définisse les seuils et décide quelles caractéristiques inclure ou exclure, ce qui introduit une variabilité importante d'un opérateur à l'autre. Clemex automatise l'ensemble de la séquence de segmentation et de mesure. La même image produit toujours une détection, des lignes de mesure et une sortie statistique identiques, quel que soit l'opérateur qui exécute l'analyse. Les résultats sont ainsi entièrement reproductibles pour les audits qualité, les études interlaboratoires et les environnements réglementés.
Même image, même résultat, pour chaque opérateur, à chaque fois
Le logiciel peut-il mesurer l'épaisseur des revêtements sur des coupes optiques et MEB?
Oui. Clemex fonctionne avec des images provenant de microscopes optiques (fond clair, lumière réfléchie) et de microscopes électroniques à balayage (modes BSE, SE). L'approche de détection, seuillage ou opérations de filtres de gris par IA, s'adapte aux caractéristiques de contraste de la modalité d'imagerie. Les coupes MEB sont particulièrement utiles pour les revêtements minces de moins de 5 µm, là où la résolution optique est insuffisante.
Optique et MEB : même flux de travail, même rapport
Que se passe-t-il lorsque deux couches adjacentes ont le même niveau de gris?
C'est un défi courant dans les systèmes céramiques multicouches tels que le carbure de silicium ou les barrières thermiques en YSZ. Lorsque le seuillage standard ne parvient pas à séparer des couches aux plages de gris identiques, le mode de détection par IA de Clemex applique une séquence d'opérations morphologiques de filtres de gris — dont les transformations « chapeau haut-de-forme » (Top Hat) et le rehaussement de gradient — pour générer un contraste suffisant à la segmentation indépendante des couches. Les deux couches sont ensuite mesurées et rapportées séparément.
La détection par IA résout automatiquement les couches à même niveau de gris
Comment Clemex gère-t-il la porosité au sein du revêtement lors de la mesure de l'épaisseur?
La porosité est segmentée indépendamment du corps du revêtement. Des opérations de remplissage binaire ferment d'abord les pores afin d'établir le contour solide du revêtement utilisé pour la mesure de l'épaisseur. Les pores sont ensuite détectés de nouveau dans un plan binaire distinct et leur fraction surfacique est rapportée comme porosité du revêtement (%). Ce découplage garantit que les cavités internes ne faussent pas les valeurs d'épaisseur mesurées, une exigence critique pour les revêtements par projection thermique, où la porosité peut être élevée.
Épaisseur et porosité mesurées indépendamment, sans contamination croisée
Combien de couches le module peut-il détecter simultanément?
Le module prend en charge les systèmes à une couche, à deux couches (du même type ou de types différents), à trois couches, ainsi que les échantillons multicouches comportant plus de trois couches. Les empilements multicouches étendus sont gérés au moyen d'une logique de combinaison de plans binaires configurable et de pipelines de traitement à saisie multiple (multi-grab) qui s'adaptent à la complexité de votre architecture de revêtement.
Des couches simples aux empilements multicouches complexes, tous pris en charge
Le rapport produit convient-il à la documentation de contrôle qualité et à la conformité aux normes?
Oui. Chaque rapport Clemex comprend des métadonnées traçables (date, grossissement, étalonnage, aire du champ), des statistiques par couche (min, max, moyenne, écart-type), des histogrammes de distribution de l'épaisseur et des superpositions d'images segmentées. Les rapports sont formatés pour être intégrés directement dans les dossiers de documentation qualité et sont alignés sur les normes de méthodologie d'analyse d'images. Le pipeline entièrement automatisé garantit des résultats prêts pour l'audit, sans intervention manuelle dans la chaîne de mesure.
Des rapports traçables et prêts pour l'audit à chaque analyse
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