Tri des données simplifié
Profitez du navigateur de données le plus performant du marché. Toutes les inclusions détectées peuvent être triées, filtrées et validées en quelques secondes, vous permettant de vous concentrer sur les données critiques.
Cotation des inclusions
Évaluation ultrarapide des inclusions
Clemex CIR aide les laboratoires de contrôle qualité à améliorer considérablement leur productivité en analysant les inclusions dans l’acier avec une vitesse, une précision et une répétabilité remarquables. Très simple à utiliser, il réduit le temps d’analyse à moins de 3 minutes pour une surface de 160 mm², avec une intervention minimale de l’utilisateur.
Types d’analyses
Notre système d’analyse d’images automatisée est conçu pour détecter les inclusions suivantes et les classifier selon les normes les plus reconnues : sulfures, aluminates, silicates, oxydes globulaires, globulaires isolés, borures, carbures, nitrures et carbonitrures.
| ASTM E45 Methods A, C, D, E | Méthodes d’essai normalisées pour la détermination de la teneur en inclusions de l’acier |
|---|---|
| ISO 4967 Methods A, B | Acier – Détermination de la teneur en inclusions non métalliques – Méthode micrographique à l’aide d’images types |
| DIN 50602 Methods M, K | Examen métallographique ; examen microscopique des aciers spéciaux à l’aide d’images types pour évaluer la teneur en inclusions non métalliques |
| JIS G 0555 | Méthode d’essai microscopique des inclusions non métalliques dans l’acier |
| EN 10247 | Examen micrographique de la teneur en inclusions non métalliques des aciers à l’aide d’images types |
Logiciel de cotation des inclusions Clemex CIR
Cotez les inclusions non métalliques dans l’acier avec vitesse, précision et répétabilité, de la cartographie complète de l’échantillon jusqu’à la revue des données et la génération de rapports conformes aux normes.
Carte de l’ensemble de l’échantillon
Localise et cartographie les inclusions sur l’ensemble de la zone d’échantillonnage, selon un alignement vertical ou horizontal. Les champs les plus critiques sont identifiés rapidement et les artefacts peuvent être supprimés. Les opérateurs peuvent naviguer facilement d’un échantillon à l’autre.
Objets traçables
Sélectionnez les inclusions et les artefacts sur une carte de l’ensemble de l’échantillon. Basculez entre cette vue cartographique et les objets sélectionnés afin de les accepter, les reclasser ou les rejeter.
Classification des oxydes et des sulfures
Ajustez le seuillage afin de détecter les oxydes et les sulfures avec précision. Éliminez les artefacts fins et les rayures.
Champs critiques flottants
Les champs les plus critiques selon les normes ASTM, ISO ou DIN sont identifiés automatiquement. Ils sont affichés sur la carte de l’échantillon à l’aide de couleurs correspondant aux types d’inclusions.
Enregistre les images du champ le plus critique
Export automatique des images .tiff des champs les plus critiques avec détection visible. Cela permet de gagner un temps considérable lors de la génération de rapports conformes à la norme ASTM E45 Méthode A.
Fonctionnalités de revue améliorées
Améliorez votre processus de prise de décision en tirant parti de vos données. Grâce à la dernière version de Clemex CIR, vous pouvez trier, filtrer et exporter les mesures de chaque inclusion, obtenant ainsi des informations pertinentes sur vos échantillons.
Fonctionnalités supplémentaires
Au-delà de la détection et de la cotation rapides, Clemex CIR intègre des capacités pratiques dont les laboratoires qualité se servent au quotidien.
Sélectionnez une fonctionnalité pour voir son rôle.
Détails du produit
Une solution clé en main, intégrée pour vous
Typiquement, un microscope inversé Nikon, une platine motorisée Märzhäuser et une caméra haute résolution sont sélectionnés afin de répondre précisément à vos besoins en cotation des inclusions. Nous assurons une intégration complète et harmonieuse de l’ensemble des composants.
- Analyse de vos besoins par un représentant technique
- Configuration, ajustement et étalonnage
- Installation sur site et formation de votre équipe
Un flux de travail simple et répétable
Augmentez la productivité en laboratoire à haut débit grâce à un flux de travail simple. L’opérateur suit une procédure en 3 étapes pour obtenir des résultats reproductibles :
- Positionner l’échantillon sur la platine
- Lancer l’analyse de l’échantillon
- Consulter les données et exporter les résultats
Matériel
Matériel et accessoires
Accessoires de platines et porte-échantillons
Clemex conçoit et fabrique des porte-échantillons et adaptateurs de platine sur mesure pour répondre aux besoins clients en analyse d’image.
En savoir plus
Microscopes
Clemex distribue des microscopes Nikon et Leica en Amérique et Europe, via ses solutions clés en main, pour une analyse microscopique précise et reproductible.
En savoir plus
Platines de microscope
Les platines, contrôleurs et joysticks Märzhäuser-Wetzlar sont compatibles avec plusieurs microscopes et entièrement pilotés par notre logiciel.
En savoir plusPrêt à accélérer la cotation des inclusions ?
Découvrez comment Clemex CIR cote les inclusions non métalliques dans l’acier en quelques minutes, ou parlez-nous d’un système clé en main configuré pour votre laboratoire et vos normes.