Module d’analyse des structures en bandes et de l’orientation des microstructures
Les structures en bandes, l’arrangement allongé et stratifié des phases laissé par la ségrégation lors du laminage à chaud, influencent directement l’anisotropie mécanique, l’usinabilité et la tenue en fatigue des aciers biphasés et d’autres alliages sujets à la ségrégation. L’évaluation traditionnelle des bandes repose sur la comparaison visuelle à des chartes de référence, un procédé intrinsèquement subjectif qui varie d’un métallographe à l’autre. Le module d’analyse des bandes de Clemex automatise l’ensemble de la procédure ASTM E1268 : il binarise la phase d’intérêt, mesure sa distribution directionnelle et rapporte l’anisotropie et l’orientation avec le même résultat à chaque fois, sur chaque échantillon.
Cessez d’évaluer la sévérité des bandes à l’œil. Clemex la mesure, selon la norme, en quelques secondes.
Voir des exemples de rapports d’analyse
En action
L'analyse des structures en bandes en action
Flux d’analyse
De l’image au résultat ASTM E1268 en 4 étapes
Un pipeline entièrement automatisé qui mène une coupe polie et attaquée jusqu’à un rapport de bandes traçable et référencé à la norme.
ACQUÉRIR / CHARGER L’IMAGE
Chargez une image de votre échantillon depuis votre microscope, votre caméra ou un jeu de données existant.
SEGMENTATION DES PHASES
Clemex identifie et isole la phase d’intérêt, en nettoyant l’image avant toute mesure.
ANALYSE DES BANDES ET DE L’ORIENTATION
Toutes les mesures exigées par ASTM E1268 sont calculées automatiquement à partir de l’image segmentée.
RAPPORT GÉNÉRÉ
Obtenez un rapport clair et prêt à partager avec tous vos résultats, à revoir et exporter d’un simple clic.
Mode d’analyse
Entièrement automatisé
La détection, la segmentation et les statistiques de bandes s’exécutent automatiquement sur un lot de champs ou d’échantillons, en cumulant les résultats dans un seul rapport.
Basé sur le seuillage
Le seuillage en niveaux de gris isole automatiquement la phase d’intérêt sur chaque champ, sans aucun traçage manuel.
Optimisé par l’IA
Un modèle d’IA entraîné détecte et segmente automatiquement la phase d’intérêt, en s’adaptant aux variations de contraste et d’attaque sans réglage manuel.
Résultats de mesure
Principales métriques de bandes et de distribution des phases
Pour chaque champ analysé, Clemex calcule l’ensemble complet des descripteurs de surface, directionnels et d’orientation définis par ASTM E1268, offrant aux laboratoires un portrait complet et traçable de la sévérité des bandes.
% de surface — phase évaluée (bleu)
Pourcentage du champ occupé par la phase binarisée pour l’évaluation des bandes.
% de surface — seconde phase (vert)
Fraction surfacique complémentaire de la phase matricielle restante, calculée automatiquement à partir du même bitplane.
Statistiques champ par champ
Les pourcentages de surface, les décomptes et les descripteurs de bandes sont cumulés automatiquement sur chaque champ et chaque spécimen de l’analyse.
Métriques de bandes et d’orientation (ASTM E1268)
Nₗ parallèle / perpendiculaire
Nombre d’intersections de joints de phase par unité de longueur, comptées parallèlement et perpendiculairement à la direction de laminage — les décomptes directionnels bruts sur lesquels reposent les bandes.
Pₗ parallèle / perpendiculaire
Nombre de comptages de points ligne de test/joint de phase par unité de longueur dans chaque direction, alimentant directement le calcul de l’anisotropie.
Anisotropie et indice d’anisotropie
Descripteurs fondés sur des rapports comparant les mesures directionnelles pour quantifier à quel point la microstructure est allongée dans la direction de laminage.
Degré d’orientation
Mesure normalisée (0–1) de l’alignement préférentiel des joints de phase, distinguant les distributions aléatoires de celles fortement en bandes.
Espacement moyen et libre parcours moyen perpendiculaire
Distance moyenne entre bandes successives (µm) et longueur moyenne ininterrompue de la phase matricielle, indicateurs directs de la grossièreté des bandes.
Fonctionnalités clés
Tout ce dont vous avez besoin dans un seul module
De l’acquisition au rapport final, Clemex couvre l’ensemble du flux d’analyse des bandes ASTM E1268.
Détection des phases par IA
- Le seuillage en niveaux de gris isole la phase d’intérêt dans un bitplane bleu net, avec des jointures binaires ajustables pour les bandes accolées ou fragmentées
- Les outils d’élimination des artéfacts retirent rayures, piqûres et bruit d’attaque avant toute mesure
Pleine conformité ASTM E1268
Pourcentage de surface, Nₗ/Pₗ, anisotropie, indice d’anisotropie, degré d’orientation, espacement moyen et libre parcours moyen sont tous calculés exactement comme le définit la norme, avec une méthodologie traçable sur chaque rapport.
Rapidité et traitement par lots
Analysez de grands ensembles de champs ou de spécimens automatiquement, en cumulant statistiques et graphiques sur tout le lot pour un contrôle qualité à haut débit sur les bobines et tôles d’acier entrantes.
Flexibilité matérielle
Compatible avec une large gamme de microscopes, caméras et platines motorisées de tout fabricant, il s’intègre à l’installation d’imagerie que vous possédez déjà.
Personnalisation de l’analyse
Ajustez les seuils de gris, les règles de jointure/connexion binaire, les filtres d’artéfacts, le grossissement et les modèles de rapport selon votre alliage, votre attaque et vos exigences de contrôle qualité.
Où les bandes comptent
Matériaux où l’analyse des bandes s’applique
Les bandes ne sont pas propres à un seul alliage. Le moteur de segmentation des phases de Clemex s’adapte au contraste et à la géométrie de chaque matériau, sans changer de modèle ni reconfigurer les réglages.
Foire aux questions
Qu’est-ce que les bandes, et pourquoi faut-il les mesurer plutôt que les estimer à l’œil ?
Les structures en bandes sont l’arrangement allongé et stratifié des phases ou constituants qui se forme lorsque les régions ségrégées issues de la coulée sont étirées lors du laminage à chaud. Elles créent une microstructure aux propriétés nettement différentes le long de la direction de laminage par rapport au travers, ce qui influence la formabilité, l’usinabilité, la ténacité et la tenue en fatigue. La comparaison visuelle à des chartes de sévérité de référence est la méthode traditionnelle, mais elle est intrinsèquement subjective : deux métallurgistes examinant le même échantillon divergent régulièrement sur la sévérité. ASTM E1268 définit des descripteurs quantitatifs, pourcentage de surface, décomptes d’interceptions directionnels, anisotropie et orientation, qui suppriment cette subjectivité.
Un nombre mesuré, pas une estimation visuelle
Que mesure réellement ASTM E1268, et comment Clemex l’implémente-t-il ?
ASTM E1268 mesure les bandes en comptant les intersections de joints de phase (Nₗ) et les points (Pₗ) le long de lignes de test tracées parallèlement et perpendiculairement à la direction de travail, puis en combinant ces décomptes en anisotropie, indice d’anisotropie, degré d’orientation, espacement moyen et libre parcours moyen. Clemex automatise chaque étape : la phase d’intérêt est binarisée en un bitplane par seuillage en niveaux de gris, les décomptes directionnels sont pris automatiquement sur le champ, et tous les descripteurs ASTM E1268 sont calculés et cumulés dans un seul rapport.
La norme complète, calculée automatiquement
Clemex peut-il évaluer plus de deux phases pour les bandes ?
Oui. Bien que l’analyse de référence de cette page évalue une phase par rapport à la matrice restante (bitplane bleu vs vert), le même pipeline de binarisation et de bandes peut être exécuté sur des phases ou constituants supplémentaires d’une microstructure multiphase, chacun avec son propre pourcentage de surface et ses statistiques directionnelles, ce qui vous permet de comparer la sévérité des bandes entre constituants d’un même champ.
Pas limité à une seule paire de phases
Quelle est la différence entre Nₗ, Pₗ et le libre parcours moyen ?
Nₗ est le nombre d’intersections de joints de phase par unité de longueur de ligne de test ; Pₗ est le nombre de points de joint par unité de longueur. Les deux sont mesurés parallèlement et perpendiculairement à la direction de laminage et constituent les entrées directionnelles brutes du calcul de l’anisotropie. Le libre parcours moyen est une distance dérivée, la longueur moyenne ininterrompue de la phase matricielle entre les bandes, perpendiculairement à la direction des bandes, donnant une idée physique de la grossièreté des bandes en micromètres plutôt qu’un décompte.
Les décomptes alimentent les rapports ; les rapports alimentent les distances
En quoi l’anisotropie, l’indice d’anisotropie et le degré d’orientation diffèrent-ils ?
L’anisotropie est le rapport direct comparant les décomptes d’interceptions directionnels. L’indice d’anisotropie normalise ce rapport par rapport aux extrêmes théoriques totalement aléatoire et totalement en bandes définis dans ASTM E1268, ce qui facilite la comparaison d’échantillons de teneur en phase différente. Le degré d’orientation est un descripteur borné de 0 à 1 indiquant à quel point les joints de phase sont alignés dans une direction préférentielle, indépendamment de la fraction du champ occupée par cette phase. Clemex rapporte les trois sur chaque analyse, de sorte que vous n’êtes jamais limité à un seul angle de lecture de la directionnalité.
Trois vues complémentaires des mêmes bandes
Le module exige-t-il un ajustement manuel du seuil pour chaque échantillon ?
Les seuils peuvent être ajustés, mais ils n’ont pas à être réglés de zéro pour chaque image. Une fois qu’un réglage de seuillage en niveaux de gris et de jointure binaire est établi pour un alliage, une attaque et un grossissement donnés, il peut être réutilisé sur tout un lot de champs ou de spécimens, l’élimination des artéfacts étant appliquée automatiquement avant la mesure.
Réglé une fois par condition, appliqué à tout le lot
L’analyse est-elle conforme aux normes d’analyse d’images et de métallographie ?
Oui. Le module d’analyse des bandes de Clemex suit la méthodologie définie par ASTM E1268. Les paramètres de mesure, les sorties statistiques et la mise en forme des rapports sont alignés sur les exigences de la norme, et chaque rapport généré inclut une méthodologie traçable et les références à la norme, ce qui le rend adapté à la qualification des fournisseurs, aux audits qualité et aux dossiers de certification destinés aux clients.
Les normes intégrées au pipeline
Comment Clemex gère-t-il une attaque inégale ou des variations de contraste sur un échantillon ?
Les coupes polies et attaquées réelles sont rarement parfaitement uniformes : la profondeur d’attaque, l’éclairage et l’état de surface peuvent tous varier sur un champ. Le modèle de détection par IA de Clemex a été entraîné sur un large éventail de microstructures réelles et imparfaites, et non seulement sur des images de laboratoire idéales, de sorte qu’il apprend à reconnaître les vrais joints de phase par leur forme et leur contexte plutôt qu’en se fiant à une seule valeur d’intensité. Cela lui permet de distinguer une véritable bande d’une rayure, d’une piqûre ou d’une zone d’attaque inégale, si bien que les statistiques de bandes reflètent la microstructure plutôt que les artéfacts de préparation. Le seuillage en niveaux de gris et les outils d’élimination des artéfacts restent disponibles pour un contrôle manuel complet au besoin.
IA entraînée sur des échantillons réels et imparfaits, pas seulement idéaux
Puis-je lancer l’analyse des bandes par lots sur de nombreux champs ou échantillons automatiquement ?
Oui. Clemex prend en charge le traitement par lots entièrement automatisé sur un nombre quelconque de champs ou de spécimens. Les pourcentages de surface, les décomptes directionnels et chaque descripteur ASTM E1268 sont cumulés automatiquement, et un rapport consolidé est généré à la fin de l’exécution, idéal pour le contrôle qualité entrant bobine par bobine ou tôle par tôle.
Un champ ou mille, le même flux de travail
Clemex s’intègre-t-il à l’équipement et au flux de travail que nous avons déjà ?
Clemex est conçu pour s’intégrer à votre laboratoire tel qu’il est, et non l’inverse. Il fonctionne avec tout microscope, caméra ou système d’imagerie produisant des fichiers d’image numériques standard, de tout fabricant, et s’insère dans vos flux de préparation d’échantillons et de production de rapports existants sans exiger de matériel propriétaire ni de dépendance à un fournisseur. Que vous exploitiez une seule station de microscope manuel ou une configuration entièrement motorisée et multi-instruments, le même module évolue avec vous.
Votre équipement, votre flux de travail. Clemex s’y adapte.
Prêt à standardiser votre évaluation des bandes ?
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