Module d’analyse de porosité
La porosité, les vides, les soufflures (poches de gaz) et les retassures piégés dans une pièce moulée ou une soudure, affecte directement la résistance mécanique, l’étanchéité sous pression et la tenue en fatigue d’une pièce finie. L’évaluation traditionnelle de la porosité repose sur la comparaison visuelle à des chartes de référence, un processus intrinsèquement subjectif. Le module d’analyse de porosité de Clemex automatise la détection et la mesure des pores : il binarise les vides par détection IA ou par seuillage des gris, mesure leur aire et leur pourcentage surfacique champ par champ, et génère un rapport statistique traçable donnant le même résultat à chaque fois.
Cessez d’évaluer la porosité à l’œil. Clemex détecte chaque pore, le mesure et le rapporte automatiquement.
Processus d’analyse
Du micrographe au rapport de porosité en 4 étapes
Un pipeline entièrement automatisé qui mène d’une coupe transversale métallographique polie directement à un rapport de porosité statistique et traçable.
ACQUÉRIR L’IMAGE
Capturez ou chargez un micrographe de votre échantillon poli au grossissement souhaité.
DÉTECTER LES PORES
Clemex identifie et isole tous les pores de la matrice environnante par détection IA ou par seuillage des gris.
MESURER LES PORES
L’aire et le pourcentage surfacique sont calculés pour chaque objet détecté, avec un nettoyage binaire éliminant les artéfacts.
RAPPORT GÉNÉRÉ
Les statistiques et les graphiques sont cumulés automatiquement en un rapport prêt à partager, sur l’ensemble des champs analysés.
Mode de détection
Détection IA
Un modèle d’IA entraîné détecte et segmente automatiquement les pores, s’adaptant aux variations de contraste et d’attaque sans réglage manuel, pour les échantillons à une seule phase poreuse comme pour les échantillons multiporeux.
Détection par seuillage
Le seuillage des niveaux de gris isole les pores dans un bitplane propre pour les échantillons à une seule phase poreuse, ou combine des critères d’intensité, de sphéricité et de compacité pour séparer les pores des autres éléments dans les échantillons multiporeux.
Traçabilité au niveau de l’objet
Chaque pore mesuré reste lié à son champ d’origine. Un clic sur celui-ci dans l’explorateur de données (Data Browser) ramène la platine motorisée exactement à cet emplacement.
Résultats de mesure
Métriques clés de porosité
Pour chaque champ analysé, Clemex calcule l’ensemble complet des descripteurs d’aire, de forme et de distribution nécessaires pour caractériser la porosité et localiser chaque défaut.
Catégorie
Métriques d’aire et de taille
Pourcentage surfacique
Pourcentage de chaque champ occupé par les pores détectés, le principal indicateur de la sévérité de la porosité.
Aire des pores individuels
Aire absolue (µm²) de chaque objet détecté, permettant des statistiques min/max/moyenne/écart-type sur tous les champs.
Cumul champ par champ
Les statistiques et les graphiques se cumulent automatiquement sur chaque champ et chaque échantillon, construisant un portrait complet de la porosité au niveau de l’échantillon.
Catégorie
Métriques de forme et de classification
Sphéricité
À quel point le contour de chaque pore se rapproche d’un cercle, utilisée pour distinguer les retassures (irrégulières) des soufflures (rondes).
Compacité
Rapport périmètre² / aire, séparant les pores compacts et bien définis des vides complexes et ramifiés ou des réseaux interdendritiques.
Classification par intensité
L’intensité des niveaux de gris sépare les pores d’éléments d’apparence semblable comme les nodules de graphite, les carbures ou les piqûres d’attaque.
Position de l’objet et traçabilité
Chaque pore est lié à sa coordonnée de platine (X, Y). Cliquez sur n’importe quelle ligne dans l’explorateur de données et la platine motorisée revient à l’emplacement exact.
Fonctionnalités clés
Tout ce qu’il vous faut dans un seul module
De l’acquisition de l’image au rapport final, Clemex couvre l’ensemble du flux de travail d’analyse de porosité.
Détection automatisée des pores
- L’IA / le seuillage isole les pores dans un bitplane propre, avec des opérations binaires ajustables pour les vides accolés ou fragmentés
- L’élimination des artéfacts retire les rayures, les piqûres et les débris de polissage avant la mesure
Vitesse et traitement par lots
Analysez automatiquement n’importe quel nombre de champs ou d’échantillons, en cumulant les statistiques et les graphiques de pourcentage surfacique sur l’ensemble du lot pour un contrôle qualité à haut débit.
Flexibilité matérielle
Compatible avec tout microscope, caméra et platine motorisée de tout fabricant, pour s’intégrer à l’installation d’imagerie que vous possédez déjà.
Vue de cartographie et traçabilité
Chaque objet mesuré reste lié à son champ d’origine. Cliquer sur un pore dans l’explorateur de données ramène la platine motorisée à l’emplacement exact, avec transfert de catégorie possible après l’analyse.
Où la porosité compte
Matériaux où l’analyse de porosité s’applique
La porosité touche toutes les familles d’alliages. Les méthodes de détection de Clemex s’adaptent au contraste et à la géométrie de chaque matériau sans changer de modèle.
Alliage d’aluminium
Porosité monophasée détectée par seuillage des gris. Pores binarisés dans un bitplane bleu, avec mesure individuelle des objets et statistiques de pourcentage surfacique champ par champ sur 10 champs à 100×.
Fonte à graphite sphéroïdal
Échantillon multiporeux où les pores sont isolés des nodules de graphite par intensité, sphéricité et compacité. Les deux populations sont mesurées simultanément sur 6 champs à 100×.
Foire aux questions
Quels types de porosité le module peut-il détecter?
Le module détecte tous les types de vides visibles dans une coupe transversale métallographique polie : la porosité gazeuse (généralement ronde), les retassures (irrégulières, interdendritiques) et les amas de microporosité. Tant que le vide crée un contraste suffisant avec la matrice à l’imagerie, le seuillage des gris l’isolera.
Tout vide contrasté est un pore détecté
Comment Clemex sépare-t-il les pores des nodules de graphite dans la fonte?
Les deux éléments apparaissent sombres sur une surface polie, mais ils diffèrent par la forme et l’intensité des niveaux de gris. Clemex applique trois critères discriminants (intensité, sphéricité et compacité) après l’étape de binarisation initiale. Les nodules de graphite sont généralement plus ronds et d’intensité plus uniforme, tandis que les pores tendent à être plus irréguliers. Le module mesure les deux populations en une seule passe, et les affectations de catégorie peuvent être révisées et transférées depuis la vue de cartographie après l’analyse.
La forme + l’intensité, pas seulement l’obscurité
L’analyse exige-t-elle un réglage manuel du seuil pour chaque échantillon?
Le seuil peut être ajusté, mais il n’a pas besoin d’être réajusté pour chaque image. Une fois un réglage de seuil des gris établi pour un alliage, une attaque et un grossissement donnés, il peut être réutilisé sur tout un lot de champs ou d’échantillons, avec élimination automatique des artéfacts avant la mesure.
Réglé une fois par condition, appliqué à tout le lot
Quelle est la différence entre l’aire et le pourcentage surfacique?
L’aire est la taille absolue d’un pore individuel en µm². Le pourcentage surfacique est la fraction du champ de vision total occupée par l’ensemble des pores détectés, exprimée en pourcentage. Le pourcentage surfacique est le principal indicateur de la sévérité de la porosité car il normalise le grossissement et la taille du champ, ce qui le rend comparable d’une condition d’imagerie à l’autre.
L’aire dimensionne le pore; le pourcentage surfacique dimensionne le problème
Puis-je retracer une mesure jusqu’à l’emplacement physique sur l’échantillon?
Oui. Chaque pore détecté est associé à ses coordonnées de champ. Lorsque vous sélectionnez un objet dans l’explorateur de données, la platine motorisée revient automatiquement au champ exact où cet objet a été mesuré, afin de le vérifier visuellement ou de le réimager à un grossissement supérieur.
Cliquez sur la donnée, la platine s’y rend
Puis-je exécuter une analyse de porosité par lots sur de nombreux champs automatiquement?
Oui. Clemex prend en charge un traitement par lots entièrement automatisé sur n’importe quel nombre de champs ou d’échantillons. Les pourcentages surfaciques et les statistiques de pores sont cumulés automatiquement, et un rapport consolidé avec des graphiques champ par champ est généré à la fin de l’analyse, idéal pour le contrôle qualité à la réception des pièces moulées ou fabriquées par fabrication additive.
Un champ ou un millier, le même flux de travail
Clemex s’intègre-t-il à l’équipement que nous possédons déjà?
Clemex fonctionne avec tout microscope, caméra ou système d’imagerie produisant des fichiers d’image numériques standard, de tout fabricant. Il s’intègre aux flux de préparation d’échantillons et de production de rapports existants sans nécessiter de matériel propriétaire. Que vous exploitiez un poste manuel unique ou une installation motorisée multi-instruments, le même module évolue avec vous.
Votre équipement, votre flux de travail. Clemex s’y adapte.
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